La tomografía con rayos X es el futuro de la metrología
La tomografía computarizada mediante rayos X está proporcionando enormes avances en la medición industrial. Es una de las conclusiones de la jornada ‘Tomografía: tecnologías y aplicaciones’ celebrada a finales de noviembre y organizada entre el centro tecnológico de referencia en entornos industriales IK4-Tekniker y Zeiss, especialista en soluciones de metrología y microscopía.
Los asistentes a la jornada pudieron conocer hacia dónde avanza la tecnología de medición y caracterización 3D. Los expertos coinciden en que la metrología de rayos X es la tendencia a seguir debido a sus grandes ventajas: la caracterización 3D ultra precisa externa e interna de la pieza que permite realizar control dimensional automático sin contacto, comparativa CAD, control de ensamblaje, análisis de defectos y espesores, e ingeniería inversa entre otras.
Según los expertos de IK4-Tekniker, “la tendencia favorece la velocidad. Se tiende a medir mediante sistemas ópticos, que en general son más rápidos que los de contacto y con sistemas multisensor para no tener que utilizar diferentes equipos”.
Por su parte, Zeiss expuso cómo ha evolucionado la metrología 3D mediante rayos X, y resumió algunas de las aplicaciones de los equipos Metrotom diseñados para generar volúmenes 3D de todo tipo de piezas incluidas las que requerían ensayos destructivos. Destacó el software de metrología Calypso para todas las máquinas de medición por coordenadas, o su software PiWeb integrado para la gestión de resultados, controles estadísticos SPC e informes interactivos.
Los participantes pudieron conocer también la tecnología de microscopía de rayos X, centrándose en la familia Xradia Versa que permite alcanzar una elevada resolución en 3D logrando imágenes y reconstrucciones 3D más definidas y con un mayor contraste. Por otro lado, la familia Xradia Ultra es la única del mercado que cuenta con una tecnología óptica de rayos X de sincrotrón, ofreciendo la mayor resolución del mercado en un equipo de tomografía por Rayos X.
