Zeiss presenta nuevos microscopios electrónicos con tecnología Gemini mejorada
Zeiss ha desarrollado una nueva generación de microscopios electrónicos de barrido de emisión de campo (FE-SEMs) con tecnología Gemini mejorada para investigación y aplicaciones industriales. Esta tecnología combina lentes electromagnéticas y electrostáticas, logrando una captura sencilla, eficiente y de alta resolución.
En primer lugar, la familia Zeiss GeminiSEM cuenta con un nuevo diseño óptico. Las lentes gemelas proporcionan imágenes de alto contraste, con una resolución sub-nanométrica. Además, la tecnología Nano VP permite el uso del equipo con presiones superiores a 150Pa, incluso las muestras no conductoras pueden visualizarse con alta calidad. Esta tecnología mejora la resolución lateral de los datos de espectroscopia de rayos X (EDS), ofreciendo mayor resolución espacial en la composición química de las muestras y obteniendo así más información sobre ellas. “Los resultados de la captura de imágenes por debajo de 100V son excelentes, incluso sin tener que manipular la muestra”, afirma Laurent Maniguet, del Grenoble Institute of Technology, quien junto a su equipo se encuentra en el grupo de pruebas del nuevo sistema. “Se trata de un gran paso adelante”, añade Maniguet.
Por otra parte, la familia Zeiss Sigma une la tecnología FE-SEM con una excelente experiencia de usuario. Su flujo de trabajo estructurado en cuatro pasos garantiza una captura rápida de las imágenes y, por lo tanto, una mejora en la productividad. Asimismo, ofrece una amplia gama de opciones de detección que permiten al usuario ajustar el equipo a las necesidades exactas de investigación: análisis de partículas, superficies, nano estructuras, películas finas, recubrimientos y capas. Con su excelente geometría para el análisis de espectroscopia de rayos X (EDS), el ZEISS Sigma se convierte en el equipo más adecuado para la caracterización analítica de cualquier tipo de muestra.
