Metromeet 2006 ratifica la "prometedora situación del sector"
6 de abril de 2006
Metromeet 2006, II Conferencia Internacional sobre Metrología Industrial Dimensional que tuvo lugar en Bilbao durante los días 23 y 24 de marzo de 2006, ratificó en su segunda edición la prometedora situación del sector.
Los profesionales allí congregados, han manifestado su satisfacción ante la gran cualificación de los ponentes, así como ante la elevada calidad de los contenidos presentados, que, a juzgar por los participantes que ya acudieron a la primera cita del evento, han presentado incluso un mayor nivel que en la anterior edición de Metromeet.
Durante los dos días de Conferencia, Metromeet 2006 congregó a cerca de 100 profesionales y expertos de 14 países diferentes, quienes han podido disfrutar de 3 keynotes o charlas magistrales, 2 tutoriales y 16 presentaciones divididas en 6 tracks temáticos.
A lo largo de la mesa redonda que precedía a la clausura del evento, expertos de referencia mundial como Maurizio Ercole, presidente de la IACMM (Asociación Internacional de Fabricantes de CMMs) y Robert Schmitt catedrático de la universidad WZL RWTH de Aachen coincidieron en que eventos como Metromeet han de ser una cita anual ineludible para los profesionales de la metrología, tanto por su componente humano, que permite el acercamiento a los principales expertos del sector, como por su calidad de foro en el que compartir tanto sus conocimientos como sus experiencias en metrología.
Asimismo, en esta edición, el Comité Técnico de Metromeet decidió premiar a la ponencia mejor valorada durante la Conferencia, otorgando dicho galardón a Henny Spaan, presidente y fundador de la empresa holandesa IBS Engineering bv.
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