Aquest article ha estat escrit originalment en castellà. L'hem traduït automàticament per a la vostra comoditat. Tot i que hem fet esforços raonables per a aconseguir una traducció precisa, cap traducció automática és perfecta ni tampoc pretén substituir-ne una d'humana. El text original de l'article en castellà podeu veure'l a El Comité Técnico de Metromeet 2005 amplía los bloques temáticos de la conferencia metrológica

El Comitè Tècnic de Metromeet 2005 amplia els blocs temàtics de la conferència metrològica

07/12/2004

7 desembre 2004

El Comitè Tècnic de la Conferència Internacional Metromeet 2005 ( www.metromeet.org ) ha decidit, després de rebre mostres d'interès de diverses empreses de diferents activitats industrials i amb l'objectiu de donar cabuda al major nombre possible d'experts, ampliar els blocs temàtics que es van a cobrir en les ponències de la conferència de Metrologia Industrial Dimensional.

Així mateix, ia causa d'aquesta ampliació, el Comitè Tècnic de la conferència internacional Metromeet 2005 ha decidit allargar la data de presentació de ponències a la conferència. D'aquesta manera, els investigadors i experts en metrologia industrial que desitgin compartir les seves experiències podran enviar les seves propostes de ponències fins al pròxim 12 de gener de 2005.

El Comitè Tècnic, presidit per Jesús Maria de la Maza, vicepresident de IACMM (Associació Internacional de Fabricants de Màquines de Mesura per Coordenades), ha mostrat la seva satisfacció per l'acollida que ha tingut aquesta iniciativa en la indústria internacional.

Així, experts de centres metrològics d'Alemanya, Canadà, Dinamarca i Espanya han confirmat la seva presència a la Conferència Internacional de Metrologia Industrial Dimensional Metromeet 2005, que tindrà lloc al Palau Euskalduna de Bilbao el 7 i 8 d'abril de 2005.

També professionals del Comitè internacional de les normes ISO, el Comitè de metrologia dimensional d'AENOR, IACMM (Associació Internacional de Màquines de Mesura per Coordenades), EMVA (Associació Europea de Màquines de Visió) o AUKOM (Associació Europea per a la Difusió de la Metrologia ) participaran en Metromeet 2005, que neix amb l'objectiu d'esdevenir un dels Congressos de Metrologia Industrial més importants d'Europa.

Els objectius de Metromeet 2005, organitzat per l'Associació Innovalia, són donar a conèixer els últims avenços tecnològics en metrologia i esdevenir un fòrum de debat sobre la seva evolució en una indústria canviant. Per a això, es prestarà especial atenció a factors tan influents com els nous desenvolupaments digitals i òptics o les normatives internacionals i europees. Així, l'esdeveniment dotarà als professionals del sector amb nous mètodes de treball i fórmules per millorar els seus processos industrials i la productivitat de l'empresa.