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Las soluciones de metrología industrial se adaptan a las líneas automatizadas, para medir todas las cotas e inspeccionar defectos internos durante el proceso de producción

Zeiss avanza en el campo de la tomografía computarizada con la tecnología de Rayos X

Redacción Interempresas

01/12/2021

Las soluciones de tomografía computarizada de Zeiss se desarrollan para facilitar las tareas más complejas en el campo de la medición e inspección, haciendo visible lo invisible. Mediante la tecnología de rayos X en entornos industriales se consigue mejorar, no sólo los controles de calidad, sino también sus procesos, abriendo así nuevas posibilidades en el escaneado de precisión dimensional.

Metrotom 1 de Zeiss cuenta con las mejores prestaciones en cuanto a velocidad de captura y precisión de las mediciones...

Metrotom 1 de Zeiss cuenta con las mejores prestaciones en cuanto a velocidad de captura y precisión de las mediciones, pero con un claro enfoque en la facilidad de uso.

Este avance tecnológico contribuye, directamente, tanto en la medición como en el análisis e inspección de defectos ocultos y difícilmente visibles a simple vista o con otros instrumentos; pero también resuelve el análisis de estructuras internas que no se pueden detectar con máquinas de medición por coordenadas.

Además, con los rayos X se pueden visualizar fragmentos sin destruir la pieza y observar su interior sin necesidad de utilizar instrumentos adicionales, lo que supone un importante ahorro de tiempo, económico al reducir el número de aparatos necesarios para su observación y, sobre todo, un drástico aumento en la fiabilidad de la inspección y medición ya que no se altera la pieza o conjunto. Pero esto no es todo, ya que estos sistemas avanzados de tomografía computarizada de Zeiss permiten realizar todo tipo de ejercicios sin necesidad de modelo CAD.

Anticiparse a los defectos de producción con la tomografía computarizada

En entornos industriales, como es el sector de la automoción, el aeroespacial, el packaging, los dispositivos médicos o la electrónica, la observación de las piezas con rayos X abre un abanico completamente nuevo de potenciales aplicaciones que van desde la inspección de defectos internos hasta el análisis estructural de materiales.

Sin una inspección minuciosa en planta, los defectos pueden pasar desapercibidos en etapas posteriores, lo que puede representar unos elevados costes para las empresas. Por este motivo, se apuesta por la progresiva automatización del departamento de calidad, a fin de evaluar el dimensionado de las piezas y anticiparse a los posibles errores de fabricación, minimizando, así, el impacto de residuos y desperdicios en la propia cadena de producción.

Con los sistemas de rayos X, se consiguen captar toda la superficie y estructura interna de las piezas fabricadas en un volumen 3D, mediante la tecnología de metrología por tomografía computarizada que se puede combinar con el software Zeiss Reverse Engineering. Precisamente, el grosor de estas estructuras internas se muestra mediante un código de colores, aunque también permite crear modelos CAD fácilmente y acelerar de forma notable los procesos de desarrollo de productos y de ingeniería inversa, ya que se puede comprobar la precisión dimensional de las piezas, incluso las más complejas, con tan sólo un escaneado.

Los sistemas de metrología de Zeiss incorporan el completo software GOM Volume Inspect

Los sistemas de metrología de Zeiss incorporan el completo software GOM Volume Inspect.

Entre las principales características de la medición por rayos X en entorno industriales destacan:

  • Permite detectar cavidades, poros, grietas y otros defectos de forma fácil y rápida.
  • Permite la visualización y control de ensamblajes montados.
  • Con solo una tomografía, se puede observar si las uniones mediante soldaduras, adhesivos o remaches están libres de defectos.
  • Los defectos en componentes electrónicos, como circuitos impresos o baterías, se ven rápidamente con los rayos X.

Soluciones industriales de tomografía computarizada por rayos X

Zeiss confía en los avances en el campo de los rayos X, para optimizar los procesos de metrología, mediante la tomografía computarizada. Ésta son algunas de sus soluciones industriales:

  • Zeiss Metrotom 1. Nuevo equipo de acceso a la tecnología. Con las mejores prestaciones en cuanto a velocidad de captura y precisión de las medidas y con un claro enfoque en la facilidad de uso. Equipo muy compacto y pensado para ser utilizado por operadores sin experiencia previa en equipos de inspección o medición. Gracias al poco espacio que ocupa, el escáner de tomografía computarizada cabe fácilmente en el laboratorio de metrología o línea de producción y permite realizar mediciones e inspecciones internas en paralelo. Incluye el completo software GOM Volume Inspect Pro, adecuado para todo tipo de usuarios y que combina todas las fases del proceso.
  • Zeiss VoluMax. Se trata de un equipo de inspección por tomografía computarizada de máximo rendimiento. Está especialmente diseñado para aplicaciones en las que hay que inspeccionar muchos componentes con gran rapidez. Tanto la máquina como el software son configurados por Zeiss de manera individualizada, en función de las necesidades de inspección.
Zeiss Bosello es uno de los equipos más robustos de, para una inspección de alta velocidad no destructiva

Zeiss Bosello es uno de los equipos más robustos de, para una inspección de alta velocidad no destructiva.

Zeiss Xradia es uno de los equipos más avanzados y de gran versatilidad para la investigación científica e industrial...

Zeiss Xradia es uno de los equipos más avanzados y de gran versatilidad para la investigación científica e industrial.

  • Zeiss Bosello. Las máquinas Zeiss Bosello son equipos robustos, para la inspección 2D con rayos X, diseñados para el entorno de producción. Garantizan una inspección de alta velocidad no destructiva, directamente en la línea o cerca de la cadena de producción con el rendimiento más elevado.
  • Zeiss Xradia. Los microscopios de rayos X 3D más avanzados son los que forman la familia Xradia, con los que se pueden obtener nuevos grados de versatilidad en la investigación científica e industrial. Con una mejorada resolución y contraste, las versiones 610 y 620 amplían los límites de las imágenes a escala nanómetrica submicrónica.

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Carl Zeiss Iberia, S.L.

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