Metromeet 2008 pone de manifiesto la relevancia del aumento de la precisión en la metrología
25 de abril de 2008
Asimismo, los asistentes tuvieron la oportunidad de presenciar demostraciones de máquinas y sistemas de medición in situ como la máquina de medición con optiscan de la empresa Trimek.
La Conferencia fue esponsorizada por la Asociación Innovalia, Faro, AAT y Renishaw. El acto de inauguración fue presidido por Izaskun Artetxe, representante del Dpto. de Innovación y Promoción Económica de la Diputación Foral de Bizkaia, entidad colaboradora también de esta edición.
A lo largo de la mesa redonda que precedió a la clausura del evento, expertos de referencia mundial como Chris Evans, de la corporación Zygo y Maurizio Ercole, presidente de la IACMM (Asociación Internacional de Fabricantes de CMMs) coincidieron en señalar que eventos como Metromeet han de ser una cita anual ineludible para los profesionales de la metrología, y animaron a todos los allí presentes a comprometerse en difundir la existencia de este foro a nivel mundial.
Finalizada la conferencia, Jesús de la Maza; presidente de la Asociación Innovalia, entregó el premio a la mejor ponencia a Chris Evans por su explicación sobre la importancia del aumento de la precisión en la metrología y en los procesos de fabricación, no sin antes convocar a los asistentes a la próxima edición del 2009, que se celebrará los días 19 y 20 de marzo.
