Metromeet 2008 lanza su programa de ponencias con propuestas al más alto nivel
20/12/2007
20 de diciembre de 2007
El Comité Técnico de la Conferencia Internacional sobre Metrología Industrial Dimensional, Metromeet 2008, tras dar por finalizado el plazo de recepción de ponencias para la cuarta edición de la Conferencia, lanza ya su programa definitivo.
Los retos a los que se enfrentan las empresas son cada vez más importantes debido a la complejidad de las nuevas infraestructuras tecnológicas y a los modelos de negocio basados en la calidad y la colaboración. Las herramientas tradicionales de gestión, no son suficientes para hacer frente a los nuevos desafíos. La propuesta de Metromeet 2008 consiste en ofrecer una visión completa que permita conocer todas las nuevas soluciones para la industria metrológica: Sistemas de calibración para la medición del metal, nuevo enfoque en tareas de coordinación geométrica, Sistemas de medición óptica, la Robótica para la Metrología, la Micro Tecnología,…
Metromeet 2008 contará una vez más, con la presencia de los profesionales más destacados en el área de la metrología, como Ted Doiron (ZYGO), Kostadin Doytchinov, R.Schmitt o Kam Lau, quienes hablarán de temas como los nuevos sistemas de desarrollo óptico y digital, entre otros, en el Palacio de Congresos y de la Música de Bilbao los días 21 y 22 de febrero de 2008.