El sector de la metrología vuelve a citarse en Metromeet
Como es habitual en la celebración de este congreso único en nuestro país, las ponencias se complementaron con una zona de exposición donde empresas como Trimek, Datapixel, Unimetrik y la Asociación Innovalia expusieron sus últimos desarrollos tecnológicos y sus herramientas más avanzadas. Efectivamente, Metromeet es la conferencia más importante en el sector de la metrología dimensional industrial, una buena ocasión para reunirse con los profesionales de la metrología dimensional.
El objetivo de Metromeet es dar a conocer los últimos avances tecnológicos en metrología y convertirse en un foro de debate sobre su evolución. Por ello se ha prestado especial atención a factores influyentes como los nuevos desarrollos digitales y ópticos o las normativas internacionales y europeas.
El congreso se inició con una presentación de Antonio Ventura – Traveset (Datapixel) sobre la importancia de los estándares en el ámbito de la metrología. “La metrología – dijo- es una industria liderara por el conocimiento y el conocimiento lidera la innovación”. La estandarización es la herramienta para la integración de conocimiento más eficaz de la industria. Este conocido profesional del sector de la metrología defendió la necesidad de estandarización y aseguró que continuará con sus esfuerzos para lograr que existan unos estándares, dados sus beneficios para la industria y para los usuarios.
Un sector de peso
En Europa se mide y se pesa con un coste equivalente mayor del 1% del PIB, con un retorno económico equivalente entre el 2 y el 7% del PIB, por lo que la metrología supone una parte vital de nuestra actividad diaria. La medición sistemática, con incertidumbre determinada, es una de las bases de control de la calidad industrial y, en las industrias más modernas, el coste de las mediciones supone del 10% al 15% de los costes de producción.
No menos interesantes fueron el resto de las presentaciones, como la de Clivia Sotomayor y Luigi Semeraro, ponentes de dos de los keynotes de Metromeet. Clivia Sotomayor impartió una presentación titulada Nanometrology for self-assembly nanofabrication methods, en la que expuso los últimos avances del CIN en este ámbito. Explicó cómo es posible llegar a la medición por debajo de los 20 nm, mediante dos métodos diferentes y expuso las amplias posibilidades para la nanoescala que ofrece la metrología química.
Por su parte, Luigi Semeraro lidera el grupo de metrología de Fusion For Energy, el organismo de la Comisión Europea para la gestión energética del Reactor Termonuclear Experimental Internacional (ITER). Luigi Semeraro impartió un keynote acerca del trabajo del equipo metrológico de Fusion For Energy, clave a la hora de coordinar la fabricación de componentes venidos de toda Europa. También explicó los detalles más importantes acerca de las prácticas adoptadas para el control de los procesos de fabricación.
