Keysight acelera la producción de obleas de fotónica de silicio
Keysight Technologies ha anunciado el nuevo NX5402A Silicon Photonics Test System integrado con su tecnología software PathWave Semiconductor Test, que es parte de la plataforma Keysight PathWave Test software. Esta nueva solución facilita que los fabricantes de semiconductores aceleren la producción de obleas de fotónica de silicio con capacidades de pruebas estables y de gran repetitividad.
La fotónica de silicio es una de las tecnologías emergentes clave en la creciente demanda de tráfico de internet y mayores tasas de datos. Las principales aplicaciones para la fotónica de silicio están en el mercado de los centros de datos, lideradas por aplicaciones big data y en la nube, pero se espera que sea utilizada en otras áreas, incluyendo salud, LiDAR (Detección y Rango por Luz) en automoción, computación óptica y computación cuántica.
Según un informe reciente de investigación de mercado realizado por Yole Développement, el mercado global de fotónica de silicio alcanzará los 3900 millones de dólares en 2025. Como consecuencia, muchos fabricantes están considerando la fabricación de fotónica de silicio. Sin embargo, no había instrumentación de pruebas para fotónica de silicio disponible comercialmente para producción a gran escala utilizando estaciones de puntas completamente automatizadas. Además, las pruebas de fotónica de silicio requieren de una variedad de medidas muy sensibles y precisas. Empresas e integradores de sistemas persiguen la optimización de sistemas y de mantenimiento debido a la compleja e ineficiente comunicación con múltiples fabricantes.
Nuevo NX5402A Silicon Photonics Test System.
“Por delante de la creciente demanda del mercado para fotónica de silicio, Keysight anuncia la primera solución de pruebas para el mercado de producción a gran escala de fotónica de silicio, ” dijo Shinji Terasawa, vicepresidente y director general del grupo de Keysight de Soluciones de Pruebas en Oblea. “Nuestro sistema de pruebas NX5402A es la primera solución que combina la ciencia de Keysight en medidas eléctricas y ópticas con el sistema de alineación y posicionamiento de fibra integrado por el software de Keysight PathWave Semiconductor Test.”
El nuevo sistema de pruebas de fotónica de silicio NX5402A de Keysight ofrece los siguientes beneficios clave:
- Solución completa: Proporciona tecnologías de medida probadas y capacidades de soporte directo incluyendo capacidades integradas de pruebas ópticas y eléctricas y el sistema de alineamiento de fibra y posicionamiento desarrollado por Keysight basado en la ciencia de medida de Keysight.
- Totalmente automatizado: Elimina la operación manual gracias al software PathWave Semiconductor Test que es compatible con el software SPECS de Keysight, facilitando las pruebas de fotónica de silicio en un único pase.
- Listo para la producción a gran escala: Características como software de automatización de fábrica, cierre de seguridad y disponibilidad para sala limpia ayudan en su uso en fabricación, proporcionando una alta tasa de medidas basadas en una arquitectura multi-canal de pruebas ópticas y eléctricas, así como un alineamiento de fibra optimizado.
- Prestaciones del sistema demostradas: Mantiene alta precisión, repetibilidad y replicabilidad desde el laboratorio hasta la producción, ofreciendo calibración avanzada a nivel de oblea, así como una fiable monitorización de prestaciones con diagnosis automatizada del sistema integrada.
