Metromeet vuelve a poner en común lo último en metrología
Patrocinada por Innovalia Metrology, Renishaw, CIN Advanced system, Faro, Zeiss y LMI Technologies, Metromeet se celebró un año más en el Palacio Euskalduna de Bilbao.Toni Ventura, CEO de Datapixel, abrió la Conferencia con un tutorial carismático en el que mostró el camino hacia la fabricación de “Zero Defectos” gracias a la metrología y acabó su intervención con una reflexión: “Metromeet permite que personas de distintos países, empresas y edades, miremos unidas hacia el futuro de la metrología”.
Ray Admire, colaborador del NIST, llevó desde Texas (Estados Unidos) una genial presentación acerca de los estándares de fabricación QIF. Ainhoa Etxabarri presentó el segundo día de Metromeet “Metrología en mecanizado” una ponencia en la que, además de presentar M3MH, un software de medición que permite la conexión directa con el CNC, mostraba una nueva manera de medir, de producir y de optimizar los procesos industriales.
Después de poner sobre la mesa temas tan atractivos como la medición híbrida, QIF, soluciones de software para impresiones 3D y la Industria 4.0, Metromeet dio por finalizada las dos primeras jornadas de la Conferencia.
A lo largo del último día tuvo lugar una mesa redonda liderada por Toni Ventura, CEO de Datapixel, Jesús de la Maza, presidente del Grupo Innovalia, Lorenzo Carli, chairman de la Conferencia, Ray Admire Presidente de la asociación DMSC y colaborador del NIST junto con Alain Pfouga, gerente de la asociación Prostep IVIP. Se trataron temas como los estándares de fabricación, la interoperabilidad y la gestión de datos en la fábrica del futuro.
Este tercer día tuvo lugar en Bodegas Baigorri, donde los asistentes disfrutaron de un contenido innovador gracias a ponentes como Sara García, campeona de rally TT en 2016 y 2017 y participante en el Dakar 2019 Malle Moto. Los asistentes pudieron ver aplicaciones de tecnología y nuevos desarrollos gracias a ponentes de LMI Technologies y CIN Advanced Systems.
