El Comité Técnico de Metromeet 2007 lanza la Convocatoria para Ponencias de su 3ª edición
13/09/2006
13 de septiembre de 2006
El Comité Técnico de Metromeet 2007, tercera edición de la Conferencia Internacional sobre Metrología Industrial Dimensional que tendrá lugar en el Palacio de Congresos y de la Música los días 8 y 9 de marzo de 2007, ha lanzado ya su Convocatoria para Ponencias.
En esta edición, una vez evaluadas todas las encuestas de satisfacción recibidas por parte de los asistentes a la anterior edición de Metromeet, el Comité Técnico ha decidido ampliar la temática en torno a la cuál girará la Conferencia, incluyendo dos nuevos temas que se encuentran en rigurosa actualidad: la Acreditación y la Certificación en el ámbito metrológico y la Formación Académica en Metrología.
La Asociación Innovalia, organizadora del evento, invita tanto a investigadores como a expertos en metrología industrial a compartir sus experiencias en alguno de los temas propuestos. Para ello, los profesionales interesados, deberán enviar antes del 9 de octubre de 2006 un resumen de sus ponencias a info@metromeet.org, o bien a través de la web en: www.metromeet.org/castellano/convocatoria_es.html
Esta ponencia podrá ser de dos tipos: tutorial – ponencia de entre una y tres horas en las que el ponente ofrecerá una visión completa de una tecnología, herramientas, instrumentos o metodología de trabajo, exponiendo de forma clara y concisa los aspectos prácticos para su implementación - o presentación – ponencia de entre media hora y una hora en torno a temas de actualidad en metrología industrial, estado del arte, problemas y soluciones, requerimientos de calidad, normativas, etc.
El Comité Técnico de Metromeet 2007 seleccionará las ponencias más relevantes y el resultado se hará oficial durante el mes de enero.
Empresas o entidades relacionadas
Trimek S.A. - Innovalia Metrology
