Ciclos de control más cortos ahora combinados con muestreos múltiples por ciclo de comunicación
El servosistema multiejes de alto rendimiento AX8000 de Beckhoff se caracteriza por una dinámica extremadamente alta y tiempos de ciclo muy cortos. La corriente del motor se muestrea en ciclos de μs y el tiempo mínimo de ciclo ajustable de EtherCAT es de 62,5 μs. Gracias al soporte de la tecnología de Oversampling, los datos de proceso pueden ahora incluso ser muestreados varias veces dentro de un ciclo de comunicación si es necesario y transferidos al controlador a través de EtherCAT.
Con el servosistema AX8000 altamente dinámico basado en EtherCAT, se pueden transferir nuevos valores nominales del Motion Controller en el PC industrial al servoamplificador cada 62,5 μs. Otros sistemas de control comparables suelen funcionar con un tiempo de ciclo de 1 ms. Ahora, el firmware del AX8000 soporta adicionalmente la tecnología de Oversampling conocida de los I/Os EtherCAT de Beckhoff. Esta permite el muestreo múltiple de los datos de proceso dentro de un ciclo de comunicación con un factor de Oversampling de hasta 128 y la transferencia de todos los datos en una matriz a través de EtherCAT. Esto permite que el sistema de control de orden superior transmita varias posiciones o velocidades nominales al accionamiento dentro de un ciclo de comunicación, que el accionamiento luego aplica. Además, las variables de medición pueden registrarse varias veces en el accionamiento y los valores almacenados en la memoria intermedia pueden ponerse a disposición del controlador dentro de un ciclo.
De esta manera, por ejemplo, un gráfico en TwinCAT Scope View puede ser resuelto de manera aún más fina. La sincronización con otros accionamientos, con o sin funcionalidad de Oversampling, es posible sin problemas a través de los relojes distribuidos (Distributed Clocks) del sistema EtherCAT. El método de Oversampling es utilizado en máquinas de procesamiento de precisión, así como en máquinas e instalaciones en las que es tecnológicamente necesaria la evaluación de valores de medición de alta resolución.
