Metromeet 2007 presenta un nuevo bloque con una ponencia de especial relevancia
23 de febrero de 2007
Una vez confeccionado el programa de Metromeet 2007, III Conferencia Internacional sobre Metrología Industrial Dimensional, la organización del evento ha anunciado que presentará un nuevo bloque dentro de la Conferencia que dará cabida a la ya calificada como “Ponencia Especial Metromeet 2007”.
Ante tan buena acogida y dada la calidad de las propuestas recibidas, el Comité Técnico de Metromeet 2007 ha decidido ampliar la estructura de la Conferencia añadiendo un nuevo bloque a la misma. De esta manera, además de las 2 charlas magistrales, Metromeet, en su tercer año, contará con una ponencia destacada como “Ponencia Especial Metromeet 2007”. La mencionada Ponencia Especial, se ha catalogado de este modo, por la excelente calidad y por el gran nivel práctico de sus contenidos.
Metromeet 2007, esponsorizada por la alianza estratégica Innovalia, y Renishaw, expresa de nuevo el interés que ha suscitado en la industria metrológica desde la celebración de su primera edición. Dicho interés se pone de manifiesto en el deseo que Asociaciones y organizaciones de renombre dentro de la industria han mostrado para apoyar la Conferencia presentándola a sus asociados como el evento anual ineludible para todos los profesionales del sector.
En esta ocasión además, Metromeet contará con la colaboración del Ministerio de Educación y Ciencia, del Dpto. de Industria, Comercio y Turismo del Gobierno Vasco, y de instituciones como EMVA (European Machine Vision Association) o IACMM (Asociación Internacional de Fabricantes de CMMs).
En este sentido, además del gran reconocimiento logrado por Metromeet, cabe destacar que las primeras inscripciones recibidas para esta tercera edición vienen a dar respuesta a la excelencia tanto de las presentaciones como de los expertos ponentes que completan el programa oficial.
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Trimek S.A. - Innovalia Metrology