La conferencia estuvo patrocinada por Innovalia y Renishaw

Metromeet 2007, III Conferencia Internacional sobre Metrología Industrial Dimensional que tuvo lugar en Bilbao durante los días 8 y 9 de marzo de 2007, confirmó en su tercera edición el compromiso de la comunidad científica internacional con el sector de la metrología industrial dimensional.

Los profesionales manifestaron su satisfacción por la calidad de los contenidos presentados así como por la magnitud del elenco de expertos que Metromeet reunió como ponentes.

Durante los dos días de conferencia, Metromeet 2007 congregó a cerca de 100 profesionales y expertos de 11 países diferentes, quienes pudieron disfrutar de dos charlas magistrales, una ponencia especial, dos tutoriales y 25 presentaciones divididas en seis bloques temáticos. La conferencia, patrocinada por Innovalia y Renishaw, contó entre sus asistentes con la presencia de Ricardo Barainka que acudió en representación del Dpto. de Innovación y Promoción Económica de la Diputación Foral de Bizkaia, entidad colaboradora también en esta tercera edición.

A lo largo de la mesa redonda que precedió a la clausura del evento, expertos de referencia internacional como Dietrich Imkamp de la empresa Carl-Zeiss y Maurizio Ercole, presidente de la IACMM (Asociación Internacional de Fabricantes de CMMs) coincidieron en señalar que eventos como Metromeet han de ser una cita anual ineludible para los profesionales de la metrología, y animaron a todos los allí presentes a comprometerse en difundir la existencia de este foro a nivel mundial.

Asimismo, en esta tercera edición, el Comité Técnico de Metromeet decidió premiar a la ponencia mejor valorada durante la Conferencia, y otorgó el galardón a Eberhard Manske, de la Universidad de Ilmenau en Alemania.

Finalmente, Jesús María de la Maza, presidente de Innovalia, dio por clausurada la 3ª edición de Metromeet, no sin antes emplazar a los asistentes a la 4ª edición, que tendrá lugar en la primavera de 2008.