Landes Poli Ibérica, S.L. - Altres equips de mesura dimensional
Sistema de microtopografía i perfilometría: sense contacte
Aquesta màquina de microtopografía i perfilometría model Micromesure 2 disposa d'uns desplaçaments de 100 x 100 mm (X,I) amb la possibilitat d'incorporar fins a 400 mm. En l'eix de la Z, és de 50 mm.
Permet realitzar mesuraments sense contacte de rugosidad superficial, de forma i textura superficial i anàlisi d'acabat en mecanitzat de pressió, entre altres opcions.
Per al mesurament sense contacte el sensor òptic empra llum blanca i l'exclusiva tècnica de la microscopía confocal amb profunditat de camp estesa per codificació cromàtica.
Amb aquesta tècnica s'obtenen millors resultats que amb les basades en làser per mesurar amb extrema precisió en qualsevol superfície (ja sigui, especular, mat, transparent...) permetent realitzar mesuraments en peces metàl·liques, cristall, materials sintètics, ceràmica, semiconductors, MEMS i MOEMS, òptica científica o oftalmológica, paper, pell, dents, fusta, etcètera. Les àrees d'aplicació inclouen la Micro i Nanotecnologia, Metrologia d'alta precisió (Microtopografía, Perfilometría, mesurament de rugosidad, mesurament de microescalones i espessors de capes, Enginyeria inversa, etc.), Tribología, Microelectrònica i Microsistemas (MEMS, MOEMS, Microsensores...), Nous materials, Implantología, Biomedicina i una llarga llista.
Per a major flexibilitat, aquest sistema permet la selecció i canvi automàtic de fins a quatre sensors òptics de diferents rangs (vuit models des de 20 micres fins a 10 mm amb resolucions de 2 mm a 0,3 micres) i dos canals de vídeo (augments 50x i 250x) permetent combinar mesuraments de rugosidad amb mesuraments de forma programades en la mateixa seqüència.
El sistema està equipat amb un potent programari que permet seleccionar de forma senzilla els paràmetres de mesurament, com són grandària de l'àrea a mesurar, nombre de línies i pas, selector automàtic del sensor òptic, etc. El mesurament es desenvolupa de forma totalment automàtica.
El programari del CD Mountains Map permet l'anàlisi completa de la superfície incloent paràmetres de rugosidad, corba d'Abbott-Firestone, anàlisi FFT, representació 3D, autonivelación, etcètera.
Permet realitzar mesuraments sense contacte de rugosidad superficial, de forma i textura superficial i anàlisi d'acabat en mecanitzat de pressió, entre altres opcions.
Per al mesurament sense contacte el sensor òptic empra llum blanca i l'exclusiva tècnica de la microscopía confocal amb profunditat de camp estesa per codificació cromàtica.
Amb aquesta tècnica s'obtenen millors resultats que amb les basades en làser per mesurar amb extrema precisió en qualsevol superfície (ja sigui, especular, mat, transparent...) permetent realitzar mesuraments en peces metàl·liques, cristall, materials sintètics, ceràmica, semiconductors, MEMS i MOEMS, òptica científica o oftalmológica, paper, pell, dents, fusta, etcètera. Les àrees d'aplicació inclouen la Micro i Nanotecnologia, Metrologia d'alta precisió (Microtopografía, Perfilometría, mesurament de rugosidad, mesurament de microescalones i espessors de capes, Enginyeria inversa, etc.), Tribología, Microelectrònica i Microsistemas (MEMS, MOEMS, Microsensores...), Nous materials, Implantología, Biomedicina i una llarga llista.
Per a major flexibilitat, aquest sistema permet la selecció i canvi automàtic de fins a quatre sensors òptics de diferents rangs (vuit models des de 20 micres fins a 10 mm amb resolucions de 2 mm a 0,3 micres) i dos canals de vídeo (augments 50x i 250x) permetent combinar mesuraments de rugosidad amb mesuraments de forma programades en la mateixa seqüència.
El sistema està equipat amb un potent programari que permet seleccionar de forma senzilla els paràmetres de mesurament, com són grandària de l'àrea a mesurar, nombre de línies i pas, selector automàtic del sensor òptic, etc. El mesurament es desenvolupa de forma totalment automàtica.
El programari del CD Mountains Map permet l'anàlisi completa de la superfície incloent paràmetres de rugosidad, corba d'Abbott-Firestone, anàlisi FFT, representació 3D, autonivelación, etcètera.
