Info

Aquest article ha estat escrit originalment en castellà. L'hem traduït automàticament per a la vostra comoditat. Tot i que hem fet esforços raonables per a aconseguir una traducció precisa, cap traducció automática és perfecta ni tampoc pretén substituir-ne una d'humana. El text original de l'article en castellà podeu veure'l a El CSIC perfecciona la visión de lo más pequeño

El CSIC perfecciona la visió d'allò més petit

20/03/2013

20 de març de 2013

Per observar allò que l'ull no veu i on el microscopi convencional tampoc arriba, es va desenvolupar la microscopía de força atòmica, una aplicació encarregada de percebre els objectes del món nanoscópico. Aquesta eina, capaç de detectar forces de l'ordre de piconewtons (la trillonésima part d'un newton) acaba de ser perfeccionada gràcies a una nova tècnica desenvolupada per investigadors de el Consell Superior de Recerques Científiques (CSIC).
La millora ha estat llicenciada a través d'una spin off de la institució, l'empresa Next-Tip. Consisteix en el dipòsit de nanopartícules de composició química i grandària controlats sobre les sondes ja existents per la microscopía de força atòmica. L'investigador de l'Institut de Ciències de Materials de Madrid del CSIC Yves Huttel, responsable del desenvolupament, explica: “Els estudis han mostrat que les nanopartícules dipositades actuen com sondes efectives i que quan més petites són, millor és la resolució en microscopía”.
Comparativa d'imatges d'AFM preses sobre la mateixa regió d'uns òpals inversos. A l'esquerra, la imatge adquirida amb una punta comercial...
Comparativa d'imatges d'AFM preses sobre la mateixa regió d'uns òpals inversos. A l'esquerra, la imatge adquirida amb una punta comercial. A la dreta, imatge equivalent presa amb una punta modificada amb la tecnologia patentada pel CSIC.
Les sondes de microscopía de força atòmica són un dels elements fonamentals per al funcionament d'aquest tipus de microscopis. Consisteixen en finíssimes puntes que recorren la superfície a observar. La interacció entre la punta i el mitjà d'estudi és la que ofereix la informació sobre la superfície en qüestió. La tècnica del CSIC afegeix, per tant, les nanopartícules de grandària i composició determinada a la superfície d'aquesta punta.

Empreses o entitats relacionades

Consejo Superior de Investigaciones Científicas

Suscríbase a nuestra Newsletter - Ver ejemplo

Contrasenya

Marcar todos

Autorizo el envío de newsletters y avisos informativos personalizados de interempresas.net

Autorizo el envío de comunicaciones de terceros vía interempresas.net

He leído y acepto el Avís legal y la Política de protecció de dades

Responsable: Interempresas Media, S.L.U. Finalidades: Suscripción a nuestra(s) newsletter(s). Gestión de cuenta de usuario. Envío de emails relacionados con la misma o relativos a intereses similares o asociados.Conservación: mientras dure la relación con Ud., o mientras sea necesario para llevar a cabo las finalidades especificadasCesión: Los datos pueden cederse a otras empresas del grupo por motivos de gestión interna.Derechos: Acceso, rectificación, oposición, supresión, portabilidad, limitación del tratatamiento y decisiones automatizadas: contacte con nuestro DPD. Si considera que el tratamiento no se ajusta a la normativa vigente, puede presentar reclamación ante la AEPD. Más información: Política de protecció de dades

REVISTAS

VÍDEOS DESTACADOS

  • Guía de instalación y mantenimiento de Discos de Ruptura

    Guía de instalación y mantenimiento de Discos de Ruptura

TOP PRODUCTS

NEWSLETTERS

  • Newsletter Química

    03/10/2024

  • Newsletter Química

    26/09/2024

Enllaços destacats

TechsolidsSmagua - Feria de ZaragozaAECQAWA Show2be

ÚLTIMAS NOTICIAS

Empreses destacades

OPINIÓN

OTRAS SECCIONES

Serveis