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En lugar de requerir un análisis de laboratorio, el sistema de medición para pistola de rayos X desarrollado por Henkel Adhesive Technologies, Henkel analiza revestimientos metálicos en 10"con un nuevo sistema demedición para pistola de rayos X Junto con Analyticon Instruments, Henkel Adhesive Technologies ha desarrollado un nuevo sistema de medición para el espectrómetro XRF portátil, o pistola de rayos X para abreviar. El sistema de medición se probó en Claas Bad Saulgau y se utilizó en la línea de producción del fabricante de piezas de maquinaria agrícola para investigar el potencial de sustituir el Bonderite M-AC 50-1 de activación en polvo por el Bonderite MAC AL 2000 de activación líquida. junto con Analyticon Instruments, puede medir el peso del recubri- miento (CW) de la capa de fosfato de Zn (ZnPO4), a través del e-coat sobre el sustrato de acero en apro- ximadamente 10 segundos. Con la pistola de rayos X fue posible anali- zar directamente y con precisión los La pistola de rayos X Niton XL2 se utilizó en esta planta de pretratamiento de Claas Bad Saulgau. 44 CONTROL DE CALIDAD