Las soluciones de metrología industrial se adaptan a las líneas automatizadas, para medir todas las cotas e inspeccionar defectos internos durante el proceso de producción SOLUCIONES INDUSTRIALES DE TOMOGRAFÍA COMPUTARIZADA POR RAYOS X Zeiss confía en los avances en el campo de los rayos X, para optimizar los procesos de metrología, mediante la tomografía computarizada. Ésta son algunas de sus soluciones industriales: • Zeiss Metrotom 1. Nuevo equipo de acceso a la tecnología. Con las mejores prestaciones en cuanto a velocidad de captura y precisión de las medidas y con un claro enfoque en la facilidad de uso. Equipo muy compacto y pensado para ser utilizado por operadores sin experiencia previa en equipos de inspección o medición. Gracias al poco espacio que ocupa, el escáner de tomografía computarizada cabe fácilmente en el laboratorio de metrología o línea de producción y permite realizar mediciones e inspecciones internas en paralelo. Incluye el completo software GOM Volume Inspect Pro, adecuado para todo tipo de usuarios y que combina todas las fases del proceso. • ZeissVoluMax. Se trata de un equipo de inspección por tomografía computarizada de máximo rendimiento. Está especialmente diseñado para aplicaciones en las que hay que inspeccionar muchos componentes con gran rapidez. Tanto la máquina como el software son configurados por Zeiss de manera individualizada, en función de las necesidades de inspección.. • Zeiss Bosello. Las máquinas Zeiss Bosello son equipos robustos, para la inspección 2D con rayos X, diseñados para el entorno de producción. Garantizan una inspección de alta velocidad no destructiva, directamente en la línea o cerca de la cadena de producción con el rendimiento más elevado. • Zeiss Xradia. Los microscopios de rayos X 3D más avanzados son los que forman la familia Xradia, con los que se pueden obtener nuevos grados de versatilidad en la investigación científica e industrial. Con una mejorada resolución y contraste, las versiones 610 y 620 amplían los límites de las imágenes a escala nanómetrica submicrónica. n
RkJQdWJsaXNoZXIy Njg1MjYx