62 METROLOGÍA Y CALIBRACIÓN DE HERRAMIENTAS Las soluciones de tomografía computarizada de Zeiss se desarrollan para facilitar las tareas más complejas en el campo de la medición e inspección, haciendo visible lo invisible. Mediante la tecnología de rayos X en entornos industriales se consigue mejorar, no sólo los controles de calidad, sino también sus procesos, abriendo así nuevas posibilidades en el escaneado de precisión dimensional. Este avance tecnológico contribuye, directamente, tanto en la medición como en el análisis e inspección de defectos ocultos y difícilmente visibles a simple vista o con otros instrumentos; pero también resuelve el análisis de estructuras internas que no se pueden detectar con máquinas de medición por coordenadas. Además, con los rayos X se pueden visualizar fragmentos sin destruir la pieza y observar su interior sin necesidad de utilizar instrumentos adicionales, lo que supone un importante ahorro de tiempo, económico al reducir el número de aparatos necesarios para su observación y, sobre todo, un drástico aumento en la fiabilidad de la inspección y medición ya que no se altera la pieza o conjunto. Pero esto no es todo, ya que estos sistemas avanzados de tomografía computarizada de Zeiss permiten realizar todo tipo de ejercicios sin necesidad de modelo CAD. Zeiss avanza en el campo de la tomografía computarizada con la tecnología de Rayos X Metrotom 1 de Zeiss cuenta con las mejores prestaciones en cuanto a velocidad de captura y precisión de las mediciones, pero con un claro enfoque en la facilidad de uso.
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