Industria Metalmecánica

Un nuevo sistema de medición de rayos X permite analizar revestimientos metálicos en solo 10” Junto con Analyticon Instruments, Henkel Adhesive Technologies ha desarrollado un nuevo sistema de medición para el espectrómetro XRF portátil, o pistola de rayos X para abreviar. El sistema de medición se probó en Claas Bad Saulgau y se utilizó en la línea de producción del fabricante de piezas de maquinaria agrícola para investigar el potencial de sustituir el Bonderite M-AC 50-1 de activación en polvo por el Bonderite MAC AL 2000 de activación líquida. En lugar de requerir un análisis de laboratorio, el sistema de medición para pistola de rayos X desarrollado por Henkel Adhesive Technologies, junto con Analyticon Instruments, puede medir el peso del recubrimiento (CW) de la capa de fosfato de Zn (ZnPO4) a través del e-coat sobre el sustrato de acero en aproximadamente 10 segundos. Con la pistola de rayos X fue posible analizar directamente y con precisión los parámetros de activación, lo que permitió a Henkel Adhesive Technologies optimizar estos parámetros en un solo día. La pieza medida se llama ‘Mulde’ y está hecha de acero laminado en frío con una capa de Zn-PO4 de 4 g/m 2 y un revestimiento electrónico. Para Claas, esto significaba que no era necesario ralentizar o interrumpir la producción total durante las pruebas, ni arries- garse a perder calidad, por ejemplo, en la protección contra la corrosión. La nueva solución, que combinaba la pistola de rayos X y el sistema de medición especial de Henkel y los 84 MEDICIÓN Y CONTROL DE CALIDAD