44 CONTROL Y MEDICIÓN El PC embebido CX5130 (izquierda) y el terminal de medición ELM3502 (módulo metálico de la derecha) ahorran espacio en el armario de control de la máquina de ensayo compacta para entornos de laboratorio. Foto: Beckhoff. La versión rediseñada del Impact Tester de ADC demuestra lo bien que pueden trabajar juntas dos disciplinas tradicionalmente dispares como la tecnología de medición y la automatización industrial. “El sistema de pruebas de impacto, como la mayoría de los de su clase, es más industrial que las típicas cajas de laboratorio de escritorio, pero ahora ofrece adquisición de datos ampliada (DAQ)”, afirma Thomas Bitsky, Jr. vicepresidente y desarrollador jefe de ADC. Fundada en 1986 por los padres de Thomas Bitsky, la empresa, con sede en Romeoville (Illinois), suministra hoy sistemas de I+D a numerosos fabricantes de artículos deportivos de renombre. ADC debía satisfacer varios requisitos a la hora de actualizar el Impact Tester. Se necesitaba un control de movimiento de precisión, comunicación por bus de campo en tiempo real y tiempos de ciclo rápidos, así como una HMI más intuitiva. Además, ADC quería que la solución superara los límites entre la tecnología tradicional de medición y la de control. Según Thomas Bitsky, el sector de la DAQ lleva demasiado tiempo aislado. Sin embargo, en el pasado, las elevadas frecuencias de Thomas Bitsky, Jr. (izquierda), vicepresidente y desarrollador jefe de ADC, trabaja en estrecha colaboración con Dave Zimbrich, ingeniero de aplicaciones, y Mike Rauch, ingeniero regional de ventas, ambos del equipo de Beckhoff en la zona de Chicago. Foto: Beckhoff. muestreo necesarias para garantizar la calidad de medición requerida solo podían encontrarse en los componentes de determinados proveedores. Pero cuando se utiliza un controlador DAQ convencional que ejecuta el software LabVIEW, el manejo automatizado de las pruebas requiere un PLC independiente, explica Thomas Bitsky: “Estos escenarios aumentan los costes, los retrasos en la comunicación y la complejidad del cableado”. Además, las tecnologías de control de movimiento y DAQ deben sincronizarse a la perfección para obtener resultados precisos y reproducibles, lo que supone un reto cuando se utilizan soluciones independientes entre sí. Para minimizar las pérdidas en las interfaces, ADC decidió utilizar tecnología de medición integrada en el sistema en una plataforma de control flexible de Beckhoff. TECNOLOGÍA DE MEDICIÓN DE GAMA ALTA EN UN SISTEMA DE E/S ESTÁNDAR EtherCAT ofrece muchas ventajas, pero las principales para ADC son la velocidad y el ancho de banda. Para la adquisición de datos analógicos durante las pruebas de impacto, se utilizan terminales de medición EtherCAT de la serie ELM con capacidad de sobremuestreo. ‘Sobremuestreo’ significa leer los datos varias veces por cada ciclo de control para mejorar la resolución temporal de una señal y aumentar su precisión. Con este alto nivel de rendimiento, ADC pudo utilizar terminales de medición comerciales (COTS) de Beckhoff para prescindir del costoso hardware especializado. Los terminales de medición de gama alta ELM3502 están totalmente integrados en el sistema de E/S estándar de Beckhoff y ofrecen medición de doble canal en una carcasa metálica reforzada. Con velocidades de muestreo de hasta 20 kmuestras/s, el terminal cubre los requisitos de medición más avanzados para ADC. Sin embargo, la serie ELM escalable también ofrece terminales que admiten frecuencias de muestreo de hasta 50 kmuestras/s. “Antes usábamos otros terminales de medición de Beckhoff, en especial el terminal de entrada analógica EL3356, que funciona bien para aplicaciones industriales. Pero nuestros clientes de pruebas y mediciones necesitaban un muestreo en el rango de los kilohercios que antes solo ofrecían los proveedores de DAQ convencionales”, afirma Thomas Bitsky,
RkJQdWJsaXNoZXIy Njg1MjYx