Analizador vectorial de redes para aplicaciones de integridad de señal
Adler Instrumentos, representante de LeCroy Corporation anuncia el lanzamiento de un nuevo concepto de instrumento, la serie de analizadores de redes vectoriales SPARQ. El SPARQ mide parámetros scattering hasta 40 GHz en cuatro puertos, simplemente presionando un botón, a un coste 5 veces inferior a otros métodos, tales como los analizadores vectoriales de redes (VNAs). Con el bajo precio y la facilidad de uso del SPARQ, las medidas de parámetros S multipuerto son ahora más asequibles y abarcan un mercado más amplio. El SPARQ es un instrumento en el dominio temporal, que utiliza tecnología TDR/T conjuntamente con innovaciones en materia de adquisición de LeCroy para la medida de los parámetros S del dispositivo bajo prueba. Muestra los resultados de las medidas tanto en el dominio de la frecuencia como en el dominio del tiempo, con resultados de las medidas en archivos estándar para ser cargados en software de simulación de terceros. La unidad es pequeña, robusta, basada en PC y fácilmente transportable, e incluye todas las herramientas hardware y software requeridas por el ingeniero de integridad de señal para caracterizar dispositivos pasivos.
El SPARQ se calibra utilizando una referencia OSLT (circuito abierto, cortocircuito, carga y paso) interna. Esto permite automatizar la calibración y la medida simplemente pulsando un botón y sin la necesidad de conectar y desconectar estándares de calibración. Con el SPARQ, se elimina, de una vez por todas, el largo, tedioso y minucioso proceso de calibración de los analizadores de redes convencionales. Los modelos “E” de SPARQ incluyen la capacidad de calibración interna, soportando también calibraciones manuales mediante el uso de un kit de calibración externo. La configuración del SPARQ es también muy rápida y sencilla; en una sóla pantalla podemos encontrar todos los parámetros de configuración para realizar las medidas de los parámetros S.
Cuando se utiliza la calibración automática, el SPARQ elimina automáticamente los efectos de los cables, conectores, adaptadores y cualquier accesorio de test para devolver únicamente los parámetros S del dispositivo bajo prueba. Los usuarios no tienen necesidad de preocuparse acerca de la ubicación del plano de referencia, ni de emplear software adicional para ayudar en el proceso de medición.
