Agilent Technologies y Cascade Microtech anuncian una alianza para optimizar las medidas en obleas
Agilent Technologies y Cascade Microtech han anunciado una alianza estratégica para ofrecer soluciones de medida de radiofrecuencias totalmente configuradas y validadas que optimicen las medidas de semiconductores en obleas al tiempo que proporcionen una configuración, una instalación y una asistencia técnica garantizadas.
“Agilent y Cascade Microtech son líderes mundiales en medida y prueba, y también en sondeo de obleas. Además, cuentan tanto con la experiencia como con los productos necesarios para proporcionar todos los componentes básicos para realizar pruebas directamente en las obleas de los dispositivos”, afirma Gregg Peters, Vicepresidente y Director General de la División de pruebas de componentes de Agilent. “La unión de nuestros esfuerzos y soluciones nos convertirá en los primeros en lanzar un nuevo modelo para ofrecer a nuestros clientes comunes del sector de los semiconductores soluciones exclusivas y diferenciadas para tomar medidas en obleas”.
Desde la configuración hasta unas medidas precisas y validadas
Especificar y configurar un sistema de medidas de radiofrecuencias en obleas puede resultar difícil y llevar demasiado tiempo. Además, a menudo es necesario obtener equipos de distintos proveedores que luego el cliente debe configurar y verificar en sus propias instalaciones. Esto conlleva dedicar mucho tiempo antes de ni siquiera poder tomar la primera medida. Con las soluciones de medida en obleas (WMS) de Agilent y Cascade Microtech, los clientes del sector de los semiconductores disponen ahora del equipo que necesitan para realizar de forma precisa y repetible medidas de DC y RF, caracterización de dispositivos y modelado, y además acortando los tiempos para tomar la primera medida.
“Las tareas de desarrollo, modelado y caracterización de semiconductores evolucionan, los ciclos hasta el lanzamiento al mercado se acortan y la necesidad de obtener más precisión es cada vez mayor”, apunta Michael Burger, Presidente y Consejero Delegado de Cascade Microtech. “Al colaborar con Agilent para ofrecer soluciones de medida en obleas garantizadas, ahora podemos proporcionar a los ingenieros de semiconductores las herramientas que necesitan para tomar de forma rápida y precisa medidas de DC y RF avanzadas tanto en los componentes como en los dispositivos y, así, lanzar sus productos a tiempo”.
Las nuevas soluciones de medida en obleas combinan las estaciones de sondeo de obleas, las sondas y las herramientas de calibración de Cascade Microtech con la instrumentación de pruebas y el software de medida y análisis de Agilent. La configuración de cada solución se valida de antemano para garantizar que satisface las necesidades de aplicación específicas de los clientes, y luego vuelve a validarse (en función de los criterios de aceptación acordados previamente) tras la instalación por parte de los expertos en soluciones de Cascade Microtech. Por “configuración garantizada” se entiende que Agilent o Cascade Microtech proporcionarán gratuitamente cualquier pieza que falte en la solución configurada.
Asimismo, Agilent y Cascade Microtech han colaborado para ofrecer un exclusivo software de soluciones de flujo de trabajo basado en el software de medida WaferPro-XP de Agilent. Junto con el software de sondeo Velox de Cascade Microtech, ahora los clientes pueden desarrollar series completas de pruebas en obleas para cubrir diversas necesidades de medida (por ejemplo, parámetros S, DC-IV/CV, figura de ruido, ruido de parpadeo y compresión de ganancia). Esta combinación de software proporciona un entorno coherente para el desarrollo de las pruebas.
Cada solución de medida en obleas está respaldada por la oferta de un completo paquete de asistencia técnica, con acceso a expertos en soluciones de su región que conocen a la perfección las pruebas y las medidas en obleas. Cascade Microtech actúa como punto de contacto único para garantizar la resolución inmediata de cualquier problema.
Lista de precios y disponibilidad
Las soluciones de medida de radiofrecuencias en obleas de Agilent y Cascade Microtech ya están disponibles en un amplio abanico de configuraciones, desde una solución nueva totalmente integrada con una sonda semiautomática o manual hasta actualizaciones de hardware específicas según la aplicación para estaciones de sondeo existentes. La nueva plataforma de software de medida WaferPro-XP de Agilent para la caracterización de dispositivos en I+D también puede integrarse en una solución de medida en oblea existente. El precio depende de la configuración de la solución. Para obtener información específica sobre precios y ventas, póngase en contacto con su ingeniero de instalaciones de Agilent o con el director de ventas de Cascade Microtech.
