National Instruments mostrará las nuevas soluciones PXI para pruebas de dispositivos móviles en el Mobile World Congress
David Loadman, vicepresidente de prueba de dispositivos móviles de National Instruments, junto con ingenieros de los productos de prueba de NI.Las demostraciones incluyen los siguientes sistemas PXI de prueba:
• Sistemas de validación de dispositivos móviles y pruebas de producción dedicados a la conectividad de la telefonía móvil e inalámbrica de acuerdo a los estándares LTE, WCDMA, GSM / EDGE, Bluetooth y WLAN.
• Solución para la prueba de chipsets y dispositivos 802.11ac con configuraciones Rx y Tx de hasta 4x4 MIMO, incluyendo soporte para 80 MHz y 80+80 MHz (160 MHz).
• Solución para las pruebas en producción de múltiples dispositivos en paralelo para el caso de teléfonos móviles, mostrando las pruebas en paralelo de vídeo HDMI y GPS.
Los ingenieros pueden lograr con las soluciones de prueba PXI definidas con software de NI tiempos de prueba que son de 5 a 10 veces inferiores a los conseguidos con los instrumentos tradicionales apilados en racks. Estos sistemas se basan en procesadores multinúcleo, FPGAs (Field-Programmable Gate Arrays) y buses de datos de alta velocidad, que proporcionan capacidad de actualización en campo, procesamiento más rápido, mayor ancho de banda y soporte escalable para los nuevos estándares de conectividad celular e inalámbrica.
