La nueva caja de herramientas de Microlease se centra en las pruebas de semiconductores
Eurofach Electrónica06/10/2016
La continua evolución de la tecnología de semiconductores da como resultado dispositivos más sofisticados con mayores niveles de funcionalidad integrada. Como consecuencia de ello existe ahora una multitud de diferentes parámetros por comprobar y en cada etapa de todo el proceso de desarrollo y producción es preciso utilizar diversos instrumentos. Esto tiene importantes implicaciones cuando se desea adquirir estos equipos de forma práctica, económica y sin riesgos. Como respuesta a esta dinámica del mercado, Microlease acaba de presentar su Semiconductor Tool Box.
Esta solución de prueba, de alta versatilidad y multifunción, permite a fabricantes de semiconductores, plantas de producción y empresas de diseño gestionar todos los aspectos relacionados con la actividad de prueba y validación, desde la investigación y el desarrollo en la fase inicial hasta las pruebas del diseño, del prototipo y finalmente de producción. Los clientes pueden escoger el paquete que mejor se adapte a sus necesidades, incluyendo hardware, software y elementos de prueba. Esto se puede hacer con un alquiler a corto plazo o a un plazo más largo, o mediante la adquisición de equipos nuevos o usados. Los productos alquilados se pueden actualizar o cambiar fácilmente por otros equipos si en algún momento hay cambios en el proceso de prueba.
Estos son algunos de los aspectos cubiertos por la Semiconductor Tool Box ahora disponible a través de Microlease:
· Pruebas de potencia - Está claro que uno de los principales retos a los que se enfrenta la industria de semiconductores reside en comprobar las pérdidas de potencia del CI. Al hacerlo se consigue los productos finales a los cuales se incorporan estos CI tendrán un bajo consumo de energía, y por tanto aprovecharán la mayor autonomía de la batería (en el caso de la electrónica de consumo) o lograrán una mayor calificación energética (en los electrodomésticos). Además, los avances en la tecnología de potencia hacen que se tenga que disipar menos calor, por lo que las necesidades de gestión térmica son menores (con las consiguientes ventajas en cuanto a coste y necesidades de espacio el sistema). Entre las numerosas opciones de alquiler y compra de Microlease se encuentra un extenso catálogo de fuentes de alimentación y soluciones de prueba de potencia, como el analizador de parámetros B1500 de Keysight (con una velocidad de muestreo de 100µs) y la serie de medidores de potencia de suministro 26xx de Keithley/Tektronix.
· Pruebas de CI de RF - Con la introducción de nuevos estándares inalámbricos, como LTE Advanced Pro, 5G y 802.11ax, así como las técnicas de próxima generación para mejorar las prestaciones de RF, como el seguimiento de envolvente (envelope tracking, ET) y la predistorsión digital (digital pre-distortion, DPD), los equipos de ingenieros de prueba están sometidos a una presión mucho mayor que nunca. Tienen que hallar maneras más efectivas de acortar los tiempos de prueba y de mantener un alto rendimiento, todo ello sin costes adicionales y sin que afecte a la precisión. Entre las herramientas ofrecidas por Microlease para pruebas de RF se encuentra en analizador de señal N9040B (que tiene un ancho de banda de hasta 50GHz y un rango dinámico sin señales espurias de 78dBc) y el generador de señal de altas prestaciones E8267D (con numerosas opciones de configuración) de Keysight.
· Pruebas del diseño - Los osciloscopios constituyen la base prácticamente para todos los procedimientos de prueba. Gracias a su completa oferta de osciloscopios, Microlease está en condiciones de suministrar a los clientes una solución totalmente optimizada y adaptada a sus criterios particulares de tipo técnico y presupuestario. Está formada por modelos estándar analógicos y digitales así como por modelos de 40GHz de altas prestaciones. También se incluyen equipos de señal mixta (en los cuales el osciloscopio se combina con un analizador lógico) y de dominio mixto (formados por el osciloscopio y un analizador de espectro incorporado).
· Pruebas de la capa física - Asegurarse de que los parámetros físicos de los CI cumplen las especificaciones previstas exigirá a menudo la utilización de un analizador de red de RF con función de reflectómetro en el dominio del tiempo (time domain reflectometer, TDR). Microlease cuenta con un amplio catálogo de equipos de los principales fabricantes, entre ellos el ZVA-67 de 67GHz y 4 puertos de Rohde & Schwarz y la serie PNA-X de 50GHz de Keysight.
“Con un número anual de CI suministrados que se acerca a los 1.000 millones de unidades, las arquitecturas de menor tamaño utilizadas y los nuevos procesos que surgen, como GaN y SiC, junto con la mayor proliferación de dispositivos MEMS, el sector de semiconductores está planteando más exigencias que nunca”, declara George Acris, Director de Marketing de Microlease. “Gracias al sólido y amplio stock de Microlease, que cuenta con el respaldo de nuestros expertos en aplicaciones, los profesionales de las pruebas tienen a su disposición una oferta prácticamente ilimitada para acceder a la tecnología de prueba avanzada que necesitan de la forma más económica y flexible. A todo ello hay que añadir que esto se puede conseguir sin preocuparse por plazos de entrega prolongados, la obsolescencia de los equipos o costes ocultos ocasionados por el mantenimiento o la calibración”.
Esta solución de prueba, de alta versatilidad y multifunción, permite a fabricantes de semiconductores, plantas de producción y empresas de diseño gestionar todos los aspectos relacionados con la actividad de prueba y validación, desde la investigación y el desarrollo en la fase inicial hasta las pruebas del diseño, del prototipo y finalmente de producción. Los clientes pueden escoger el paquete que mejor se adapte a sus necesidades, incluyendo hardware, software y elementos de prueba. Esto se puede hacer con un alquiler a corto plazo o a un plazo más largo, o mediante la adquisición de equipos nuevos o usados. Los productos alquilados se pueden actualizar o cambiar fácilmente por otros equipos si en algún momento hay cambios en el proceso de prueba.
Estos son algunos de los aspectos cubiertos por la Semiconductor Tool Box ahora disponible a través de Microlease:
· Pruebas de potencia - Está claro que uno de los principales retos a los que se enfrenta la industria de semiconductores reside en comprobar las pérdidas de potencia del CI. Al hacerlo se consigue los productos finales a los cuales se incorporan estos CI tendrán un bajo consumo de energía, y por tanto aprovecharán la mayor autonomía de la batería (en el caso de la electrónica de consumo) o lograrán una mayor calificación energética (en los electrodomésticos). Además, los avances en la tecnología de potencia hacen que se tenga que disipar menos calor, por lo que las necesidades de gestión térmica son menores (con las consiguientes ventajas en cuanto a coste y necesidades de espacio el sistema). Entre las numerosas opciones de alquiler y compra de Microlease se encuentra un extenso catálogo de fuentes de alimentación y soluciones de prueba de potencia, como el analizador de parámetros B1500 de Keysight (con una velocidad de muestreo de 100µs) y la serie de medidores de potencia de suministro 26xx de Keithley/Tektronix.
· Pruebas de CI de RF - Con la introducción de nuevos estándares inalámbricos, como LTE Advanced Pro, 5G y 802.11ax, así como las técnicas de próxima generación para mejorar las prestaciones de RF, como el seguimiento de envolvente (envelope tracking, ET) y la predistorsión digital (digital pre-distortion, DPD), los equipos de ingenieros de prueba están sometidos a una presión mucho mayor que nunca. Tienen que hallar maneras más efectivas de acortar los tiempos de prueba y de mantener un alto rendimiento, todo ello sin costes adicionales y sin que afecte a la precisión. Entre las herramientas ofrecidas por Microlease para pruebas de RF se encuentra en analizador de señal N9040B (que tiene un ancho de banda de hasta 50GHz y un rango dinámico sin señales espurias de 78dBc) y el generador de señal de altas prestaciones E8267D (con numerosas opciones de configuración) de Keysight.
· Pruebas del diseño - Los osciloscopios constituyen la base prácticamente para todos los procedimientos de prueba. Gracias a su completa oferta de osciloscopios, Microlease está en condiciones de suministrar a los clientes una solución totalmente optimizada y adaptada a sus criterios particulares de tipo técnico y presupuestario. Está formada por modelos estándar analógicos y digitales así como por modelos de 40GHz de altas prestaciones. También se incluyen equipos de señal mixta (en los cuales el osciloscopio se combina con un analizador lógico) y de dominio mixto (formados por el osciloscopio y un analizador de espectro incorporado).
· Pruebas de la capa física - Asegurarse de que los parámetros físicos de los CI cumplen las especificaciones previstas exigirá a menudo la utilización de un analizador de red de RF con función de reflectómetro en el dominio del tiempo (time domain reflectometer, TDR). Microlease cuenta con un amplio catálogo de equipos de los principales fabricantes, entre ellos el ZVA-67 de 67GHz y 4 puertos de Rohde & Schwarz y la serie PNA-X de 50GHz de Keysight.
“Con un número anual de CI suministrados que se acerca a los 1.000 millones de unidades, las arquitecturas de menor tamaño utilizadas y los nuevos procesos que surgen, como GaN y SiC, junto con la mayor proliferación de dispositivos MEMS, el sector de semiconductores está planteando más exigencias que nunca”, declara George Acris, Director de Marketing de Microlease. “Gracias al sólido y amplio stock de Microlease, que cuenta con el respaldo de nuestros expertos en aplicaciones, los profesionales de las pruebas tienen a su disposición una oferta prácticamente ilimitada para acceder a la tecnología de prueba avanzada que necesitan de la forma más económica y flexible. A todo ello hay que añadir que esto se puede conseguir sin preocuparse por plazos de entrega prolongados, la obsolescencia de los equipos o costes ocultos ocasionados por el mantenimiento o la calibración”.